Metrología
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MarSurf CM select Medición 3D en toda la superficie
ES
Medir superficies de forma adaptada a cada situación
El MarSurf CM select es un potente microscopio confocal configurable que permite medir o analizar superficies de forma tridimensional, sin contacto, independientemente del material de que se trate y de forma rápida.

Los sistemas de ejes y de aislamiento, así como los módulos de software, pueden combinarse de forma individual. De este modo, el sistema de medición puede adaptarse a diferentes tareas de medición.

Como sistema multisensor, el MarSurf CM select también ofrece la posibilidad de combinar varias tecnologías de sensor en un solo aparato de medición. En función de la tarea de medición de que se trate, puede seleccionarse de forma flexible el sensor de puntos óptimo.

El MarSurf CM select cumple sus requisitos individuales de automatización, comodidad de medición y exactitud, incluida la solución de medición totalmente automatizada.

Sus ventajas principales:
  • Diseñado para el servicio continuo
  • Software de automatización con interfaces industriales para la transmisión a sistemas QS
  • Alta velocidad de medición, incluso a resolución completa
  • Configurable de manera individual en función del tamaño de sus muestras
  • Sistema de múltiples sensores
  • Concepto intuitivo
  • Seguridad a través de la detección de colisiones en todas las direcciones para proteger su pieza de trabajo y su sistema de medición
  • Función de alto rango dinámico (HDR) de 16 bits
  • Resolución uniformemente alta, incluso en superficies de medición grandes gracias al ensamblaje (stitching) de alta resolución.

El sistema de medición óptico acreditado se utiliza con éxito, entre otros, para:
  • Medición de rugosidad según DIN EN ISO 4287 / 25178
  • Medición de topografías (p. ej.., volumen, desgaste, isotropia)
  • Medición de microgeometrías y espesores de capa

Los usuarios aprecian la serie por ser un sistema de medición fiable que ofrece parámetros 3D cuantitativos y rastreables para numerosos sectores de la industria.
  • Datos técnicos
  • Aplicaciones
  • Volumen de suministro

Principio de medición
LED
confocal de alto rendimiento (505 nm/blanco)

Ingeniería mecánica
Cualificar y cuantificar rugosidad, geometría y grado de desgaste

Electrónica y semiconductores
Inspección de piezas hasta el rango de las submicras para obtener productos sin defectos

Ingeniería biomédica
Garantía de calidad de superficies biomédicas en la producción y en el laboratorio

Ciencias físicas
Optimización de las propiedades de funcionamiento de superficies y productos nuevos

Técnica de microsistemas
Medir con la precisión de nanómetros geometrías complejas de superficies de componentes muy pequeños

MarSurf CM select
  • Cabezal de medición confocal
    • Cámara HDR (blanco y negro o cámara a color)
    • Cabezal de objetivo de 4x con identificación (opcional)
  • Estructura de portal, incluida la electrónica de control
  • Ejes XYZ motorizados seleccionables en diversas variantes
  • PC industrial, con dos monitores TFT de 24”
  • Objetivo:
    • seleccionable de 5x a 100x
  • Posibilidad de seleccionar un sistema de amortiguación de vibraciones
  • Sistema de múltiples sensores (opcional)
  • Cámara de visión global (opcional)
  • MarSurf MSW para el registro intuitivo de datos
  • MarSurf ASW para la automatización (opcional)
  • MarSurf MfM para la evaluación profesional, la representación gráfica y la elaboración de informes (posibilidad de elegir la versión estándar, extendida o premium)