Metrología
Metrología
MarSurf CWM 100
ES
El aparato óptico de medición MarSurf CWM 100, altamente preciso y controlado por PC, con resolución en el rango de los subnanómetros. Un sistema de medición en 3D combinado formado por un microscopio confocal y un interferómetro de luz blanca
  • Máxima precisión con resolución en el rango de los subnanómetros
  • Adecuación universal para superficies técnicas, ópticas y reflejantes, así como para superficies de placas de circuito impreso, productos de semiconductores y tejidos biológicos
  • Análisis de superficies en 2D y evaluaciones de mediciones
  • Análisis de superficies topográficas en 3D y evaluaciones de valores de medición
  • Mediciones rápidas - Tiempos de medición cortos
  • Tamaños microscópicos del campo visual, ampliables de forma fácil gracias al proceso de ensamblaje o stitching
  • Posicionamiento automático de la mesa o del objeto: 100×100 mm, recorridos más largos a petición
  • La amplia selección de objetivos permite obtener una adaptación ideal al objeto a medir
  • Construcción maciza con placa base de granito y columna de granito para conseguir la mejor amortiguación posible frente a las vibraciones
  • Software de evaluación profesional basado en MountainsMap©
  • Datos técnicos
  • Aplicaciones
  • Accesorios
  • Volumen de suministro

Principio de medición
Interferométrico, interferométrico de luz blanca y confocal
Fuente de luz (KFM y WLI): LED de alto rendimiento, 505 nm
Intervalo de medición mm
Unidad de sensor desplazable 100 mm en Z, controlable por CNC
Mesa portadora desplazable 100 mm en X e Y, controlable por CNC

Interferómetro, interferómetro de luz blanca:
Rango de medición (WLI): más de 4 mm en el modo estándar, más de 20 mm en el modo ampliado

Microscopio confocal:
Rango de medición (KFM): hasta 10 mm (dependiendo de la resolución en Z y del objetivo)
Conexiones
230 V, 50 Hz

Construcción de máquinas
Superficies metálicas de todo tipo (rectificadas, laminadas, etc.), incluidas las superficies estructuradas por láser, las superficies cerámicas y de plástico y las superficies de moldes de inyección

Medicina
Superficies metálicas, cerámicas y de plástico para implantes, prótesis e instrumentos

Electrónica

Análisis de superficies de resvestimientos, medición y análisis de elementos de construcción electrónicos y de semiconductores

Óptica

Análisis de forma y rugosidad de diversos componentes del sector de la óptica (todos los materiales)

Mesa basculante CT 120 de dos ejes

Mesa de ajuste angular ± 30 °C

Juego de patrones

Microscopio confocal:

Objetivos KFM 10 x 0,5;  20 x 0,75;  50 x 0,6 con distancia de 11 mm entre la mesa portadora y la pieza de trabajo;  50 x 0,8;  100 x 0,9

Interferómetro de luz blanca:

Objetivos WLI 2,5 x 0,075;  5 x 0,13;  10 x 0,3;  20 x 0,4;  50 x 0,55;  100 x 0,7

  • Sistema de sensores, formado por:
    • Microscopio confocal KFM con cabezal de objetivo de 6x
    • Cámara de 780×580 píxeles, hasta 48 imágenes/s (versión estándar)
    • Eje Z de 100 mm controlable por CNC con escala de vidrio de Heidenhain integrada
    • Módulo de software WLI, software “Inspector”
  • Bastidor de granito y columna con sistema de sensores y mesa portadora controlable por CNC
  • Control motorizado de varios ejes para el eje Z y mesa XY para posicionar las muestras y combinar los campos de visuales (“stitching”)
  • Objetivos (opcional):
    • de 4x a 150x (microscopio confocal)
    • de 2,5x a 100x (interferómetro de luz blanca)