Metrología
Metrología
MarSurf XC 2 mit CD 120 Estación de medición de contornos
ES
El acceso a la medición exacta de contornos
La medición y la evaluación de geometrías relevantes para el funcionamiento en piezas de trabajo y herramientas se encuentra entre los requisitos esenciales de las áreas de la investigación, la tecnología y la industria. El sistema de medición de contornos en 2D, rápido, sencillo y asequible, cobra cada vez más preferencia frente a otros procedimientos. Por un lado, el MarSurf XC 2 cumple todos los requisitos de precisión y los distintos criterios de evaluación. Y, por otro lado, ofrece resultados seguros y fiables.
  • Elementos asociativos, es decir, modificación inmediata de las magnitudes dependientes de los elementos de referencia en cuanto se producen cambios
  • Los derechos de acceso del usuario, protegidos mediante contraseña, excluyen la posibilidad de que se realice un uso inadecuado
  • Excelente procedimiento de calibración gracias a la larga experiencia, es decir, calibración de la geometría, calibración de la fuerza de medición, compensación de la deformación y mucho más
  • Estabilidad y rigidez de los palpadores
  • Unidad de avance con una marcha extremadamente suave, así como con un alto nivel de estabilidad y precisión
  • Elevación y descenso automáticos del brazo de palpado con una velocidad ajustable de forma individual
  • Alta velocidad de posicionamiento
  • Protección contra impactos a través de la sujeción patentada del brazo de palpado.
  • Datos técnicos
  • Aplicaciones
  • Accesorios
  • Volumen de suministro

 
9999340 - MESSPLATZ XC 2 MarWin MarSurf
9036396 - Messplatz MarSurf XC 2 mit ST 500 ohne PC
Velocidad de medición
de 0,2 mm/s a 4 mm/s
de 0,2 mm/s a 4 mm/s
Velocidad de palpado (en Z)
de 0,1 a 1 mm/s
de 0,1 a 1 mm/s
Velocidad de posicionamiento
En X y velocidad de retorno: de 0,2 a 8 mm/s
En Z: de 0,2 a 10 mm/s
En X y velocidad de retorno: de 0,2 a 8 mm/s
En Z: de 0,2 a 10 mm/s
Ángulo de palpado
en superficies lisas en función de la deflexión: flancos descendentes hasta 88°, flancos ascendentes hasta 77°
en superficies lisas en función de la deflexión: flancos descendentes hasta 88°, flancos ascendentes hasta 77°
Desviación de la guía
< 1 µm (a través de 120 mm)
< 1 µm (a través de 120 mm)
Resolución
En Z con referencia a la punta de palpado: 0,38 µm (con brazo de palpado de 350 mm)/0,19 µm (con brazo de palpado de 175 mm)
En Z con referencia al sistema de medición: 0,04 µm
En Z con referencia a la punta de palpado: 0,38 µm (con brazo de palpado de 350 mm)/0,19 µm (con brazo de palpado de 175 mm)
En Z con referencia al sistema de medición: 0,04 µm
Recorrido de palpado (en X) inicio
0,2 mm
0,2 mm
Longitud del brazo de palpado
175 mm, 350 mm
175 mm, 350 mm
Radio de la punta de palpado
25 µm
25 µm
Recorrido de palpado (en X) final
120 mm
120 mm
Intervalo de medición mm
(en Z) 50 mm
(en Z) 50 mm
Recorridos de palpado
de 0,2 mm a 120 mm
de 0,2 mm a 120 mm
Fuerza de medición
de 1 mN a 120 mN
de 1 mN a 120 mN

Construcción de máquinas
Cojinetes, roscas, vástagos roscados, husillos de bolas circulantes, árboles, cremalleras

Medición en el entorno cercano al área de fabricación

Medición de contornos en el proceso parcialmente automático

Industria automovilística
Dirección, sistemas de frenos, transmisiones, cigüeñales, árboles de levas, culatas

Medicina
Contorno de prótesis de cadera y de rodilla, contorno de tornillos quirúrgicos, contorno de implantes dentales

Opcional:
  • Columna de medición MarSurf ST 750
  • Panel de control manual con palanca de mando y pantalla MCP 21
  • Tornillo de banco paralelo, bloque prismático
  • Mesa de trabajo

Opciones de software:
  • Opción - Importación DXF
  • Opción - Elementos tangenciales
  • Opción - Evaluación de roscas
  • Opción - Chaflán
  • Opción - QS-STAT/QS-STAT Plus
  • Opción - Topografía

  • MarSurf XC 2 including PC, MidRange Standard, MarSurf XC 2 software, Mahr license key
  • TFT monitor
  • MarSurf CD 120 drive unit
  • MarSurf ST 500 measuring stand (including holder)
  • Calibration set
  • MCP 23 manual control panel
  • CT 120 XY table including rotary adjustment

Metrología
MarSurf XC 2 mit CD 120 Estación de medición de contornos
ES
El acceso a la medición exacta de contornos
La medición y la evaluación de geometrías relevantes para el funcionamiento en piezas de trabajo y herramientas se encuentra entre los requisitos esenciales de las áreas de la investigación, la tecnología y la industria. El sistema de medición de contornos en 2D, rápido, sencillo y asequible, cobra cada vez más preferencia frente a otros procedimientos. Por un lado, el MarSurf XC 2 cumple todos los requisitos de precisión y los distintos criterios de evaluación. Y, por otro lado, ofrece resultados seguros y fiables.
  • Elementos asociativos, es decir, modificación inmediata de las magnitudes dependientes de los elementos de referencia en cuanto se producen cambios
  • Los derechos de acceso del usuario, protegidos mediante contraseña, excluyen la posibilidad de que se realice un uso inadecuado
  • Excelente procedimiento de calibración gracias a la larga experiencia, es decir, calibración de la geometría, calibración de la fuerza de medición, compensación de la deformación y mucho más
  • Estabilidad y rigidez de los palpadores
  • Unidad de avance con una marcha extremadamente suave, así como con un alto nivel de estabilidad y precisión
  • Elevación y descenso automáticos del brazo de palpado con una velocidad ajustable de forma individual
  • Alta velocidad de posicionamiento
  • Protección contra impactos a través de la sujeción patentada del brazo de palpado.
  • Datos técnicos
  • Aplicaciones
  • Accesorios
  • Volumen de suministro

Velocidad de medición
de 0,2 mm/s a 4 mm/s
Velocidad de palpado (en Z)
de 0,1 a 1 mm/s
Velocidad de posicionamiento
En X y velocidad de retorno: de 0,2 a 8 mm/s
En Z: de 0,2 a 10 mm/s
Ángulo de palpado
en superficies lisas en función de la deflexión: flancos descendentes hasta 88°, flancos ascendentes hasta 77°
Desviación de la guía
< 1 µm (a través de 120 mm)
Resolución
En Z con referencia a la punta de palpado: 0,38 µm (con brazo de palpado de 350 mm)/0,19 µm (con brazo de palpado de 175 mm)
En Z con referencia al sistema de medición: 0,04 µm
Recorrido de palpado (en X) inicio
0,2 mm
Longitud del brazo de palpado
175 mm, 350 mm
Radio de la punta de palpado
25 µm
Recorrido de palpado (en X) final
120 mm
Intervalo de medición mm
(en Z) 50 mm
Recorridos de palpado
de 0,2 mm a 120 mm
Fuerza de medición
de 1 mN a 120 mN

Construcción de máquinas
Cojinetes, roscas, vástagos roscados, husillos de bolas circulantes, árboles, cremalleras

Medición en el entorno cercano al área de fabricación

Medición de contornos en el proceso parcialmente automático

Industria automovilística
Dirección, sistemas de frenos, transmisiones, cigüeñales, árboles de levas, culatas

Medicina
Contorno de prótesis de cadera y de rodilla, contorno de tornillos quirúrgicos, contorno de implantes dentales

Opcional:
  • Columna de medición MarSurf ST 750
  • Panel de control manual con palanca de mando y pantalla MCP 21
  • Tornillo de banco paralelo, bloque prismático
  • Mesa de trabajo

Opciones de software:
  • Opción - Importación DXF
  • Opción - Elementos tangenciales
  • Opción - Evaluación de roscas
  • Opción - Chaflán
  • Opción - QS-STAT/QS-STAT Plus
  • Opción - Topografía

  • MarSurf XC 2 inclusive Midrange Standard, Software MarSurf EasyContour with XC 2 Software function, Mahr License Key
  • Dreive unit MarSurf CD 120
  • Measuring stand MarSurf ST 500 (inclusive Mount and granite)
  • Calibration set
  • Control Panel MCP 23
Optional
  • XY-Tisch MarSurf CT 120 with angle adjustement
  • XY-Tisch MarSurf CT 300