Métrologie
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MarSurf XR 20 mit GD 120 Poste de mesure de rugosité
FR
MarSurf XR 20 avec GD 120, la référence des postes de mesure Mahr pour la mesure de rugosité et d'ondulation
Basé sur PC, l'appareil fournit tous les profils et paramètres courants selon les normes internationales, en salle de mesure ou en production. Très performant, MarSurf XR 20 allie plusieurs dizaines d'années d'expérience en matière de mesure d'états de surface à une technologie d'avenir, à des symboles clairs et à des aides conviviales pour la commande.
Associé à l'unité d'avance GD 120, il permet une longueur d'exploration jusqu'à 120 mm.
En plus des analyses de rugosité, il est également possible de réaliser des analyses de profil et d'ondulation.
  • Plus de 100 paramètres pour les profils R, P et W selon ISO/JIS, ASME ou MOTIF (ISO 12085)
  • Surveillance de tolérance et statistiques pour tous les paramètres
  • Création rapide de programmes de mesure Quick & Easy par procédures d'apprentissage
  • Création de rapports détaillés
  • Fonction automatique de sélection normalisée des filtres et de la longueur d'exploration
  • Prise en charge de différentes méthodes de calibrage (statique/dynamique) avec préréglage du paramètre Ra ou Rz
  • Intervalle réglable de maintenance et d'étalonnage
  • Mode de simulation permettant une familiarisation rapide avec le mode de fonctionnement
  • Diverses configurations des postes de mesure pour les applications personnalisées
  • Données techniques
  • Applications
  • Accessoires
  • Expédition

Principe de mesure
Procédé de palpage sur une section
Palpeur
Palpeur R, MFW 250 B
Étendue de mesure mm
MFW 250 : ±25 µm, ±250 µm, (jusqu'à ±750 µm) ; ±1,000 µin, ±10,000 µin, (jusqu'à ±30,000 µin)
Filtre selon ISO/JIS
Filtre ISO 11562-21 (anciennement ISO 11562), filtre gaussien robuste ISO 16610-31, filtre ISO 13565
Longueurs d'exploration
Automatique, 0,56 mm ; 1,75 mm ; 5,6 mm ; 17,5 mm ; 56 mm* ;
Mesure jusqu'à l'arrêt, variable
* La longueur d'exploration dépend de l'unité d'avance
Nombre n de longueurs de base selon ISO/JIS
1 à 50 (par défaut : 5)
Valeurs caractéristiques
Plus de 100 paramètres des profils R, P et W
selon les normes ISO/JIS ou MOTIF (ISO 12085) actuelles

Construction mécanique
Paliers, filetages, tiges filetées, vis à billes, arbres, crémaillères, soupapes

Industrie automobile
Direction, système de freinage, engrenages, vilebrequin, arbre à cames, culasse, bloc-cylindres, turbocompresseur

Médecine
Mesure de rugosité d'endoprothèses de la hanche et du genou

Aéronautique et aérospatiale
Composants de turbines

Optique
Divers composants optiques

En option :
  • Statif de mesure MarSurf ST 750
  • Boîtier de commande avec joystick et affichage
  • Étau parallèle
  • Bloc prismatique
  • Table pour appareil
  • Système d'amortissement des vibrations
  • Cabine de mesure

Options logicielles générales :
  • Option Ondulation dominante (WDc) pour MarWin
  • Option Paramètres ISO 13565-3
  • Option QS-STAT / QS-STAT Plus
  • Option Édition de profil
  • Option Paramètres définis par l'utilisateur
  • Option Contour 1 pour MarSurf XR 1 / XR 20
  • Option Topographie

  • MarSurf XR 20 avec PC, Midrange Standard, logiciel XR 20 et clé de licence « Mahr License Key »
  • Moniteur TFT
  • Unité d'avance MarSurf GD 120
  • Coffret de palpage MFW 250 B
  • Statif de mesure MarSurf ST 500
  • Étalon de calibrage PGN-3
  • Panneau de commande MCP 23
  • Table XY CT 300