Métrologie
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MarSurf XC 20 mit PCV 200 Poste de mesure de contour
FR
La référence mondiale pour la mesure de contours
MarSurf XC 20 est l'appareil de pointe par excellence pour l'analyse de contours. Ce système, né il y a 30 ans avec le contourographe (composé d'une unité d'avance et d'un appareil enregistreur), a aujourd'hui évolué en un système de mesure de contour de la plus haute qualité, doté d'une technologie de pointe. La configuration de l'appareil parfaitement adaptée offre les standards de performance les plus élevés. Le logiciel de mesure et d'analyse très fiable permet de commander et de positionner l'unité d'avance et le statif de mesure.
  • Affichage possible d'indications de déroulement
  • Des éléments de commande interactifs assistent l'opérateur lors des analyses et des processus automatiques
  • Mesure du contour supérieur et inférieur avec le palpeur dit « à deux pointes », ces contours peuvent ensuite être confrontés lors de l'analyse
  • Création de sections de profil avec analyse de différents paramètres pour chaque section
  • Mesure par secteurs possible sur les obstacles tels que les alésages ou les flancs à forte pente
  • Prise en charge de l'import et de l'export de fichiers dxf pour la comparaison nominale/réelle
  • Unité d'avance PCV 200 avec fixation brevetée du bras de palpage pour un changement de bras de palpage reproductible sans outil
  • Flexibilité du poste de mesure grâce au système de palpage breveté
  • Forces de palpage pouvant être modifiées librement, pour une flexibilité supplémentaire
  • Création synthétique de profils théoriques à partir de droites et d'arcs de cercle
  • Comparaison des profils nominaux et réels 
  • Sélection possible de tolérances différentes dans un profil par leur désignation
  • Données techniques
  • Applications
  • Accessoires
  • Versions
  • Expédition

Vitesse de mesure
0,2 mm/s à 4 mm/s
Vitesse de mise en contact (sur Z)
0,1 à 1 mm/s
Vitesse de positionnement
En X et vitesse de retour : 0,2 à 8 mm/s
En Z : de 0,2 à 10 mm/s
Écart de guidage
< 1 µm (over 200 mm)
Angle de palpage
sur surfaces lisses selon la déflexion : flancs descendants jusqu'à 88°, flancs montants jusqu'à 77°
Résolution
En Z par rapport à la pointe de palpage : 0,38 µm (avec le bras de palpage de 350 mm) / 0,19 µm (avec le bras de palpage de 175 mm)
En Z par rapport au système de mesure : 0,04 µm
Rayon de la pointe de palpage
25 µm
Longueur d'exploration (en X), début
0,2 mm
Longueur d'exploration (en X), fin
200 mm
Longueur du bras de palpage
175 mm, 350 mm
Étendue de mesure mm
(en Z) 50 mm
Longueurs d'exploration
0,2 mm à 200 mm
Force de mesure
1 mN à 120 mN, vers le bas et vers le haut (réglable dans MarSurf XC 20)

Construction mécanique
Palier, filetages, tiges filetées, vis à billes, arbres, crémaillères

Mesure en production

Mesure de contour en processus partiellement automatique

Industrie automobile
Direction, système de freinage, engrenages, vilebrequin, arbre à cames, culasse

Médecine
Contour d'endoprothèses de la hanche et du genou, contour de vis médicales, contour d'implants dentaires

En option :
  • Statif de mesure MarSurf ST 750
  • Boîtier de commande avec joystick et affichage MCP 21
  • Étau parallèle, bloc prismatique
  • Table pour appareil

Options logicielles :
  • Option Analyse de filetage
  • Option Chanfrein
  • Option QS-STAT / QS-STAT Plus
  • Option Topographie

  • Combinaison avec l'unité d'avance et système de palpage LD 130 / 260
  • Combinaison avec les statifs de mesure ST 500 ou ST 750

  • MarSurf XR 20 avec PC, Midrange Standard avec logiciel XC 20 et clé de licence « Mahr License Key »
  • Moniteur TFT
  • Unité d'avance MarSurf PCV 200
  • Statif de mesure MarSurf ST 500 (avec support)
  • Étalon de calibrage
  • Panneau de commande MCP 23
  • Table XY CT 300