計測技術
計測技術
MarSurf XR 1 粗さ測定ステーション
JA
MarSurf XR 1。使いやすい表面測定を低価格で実施するのに適した測定器です。
PC ベースの測定機は、測定室および生産現場の両方で、国際基準に準拠するすべての共通表面パラメータおよびプロファイルを提供します。Mahr 社の MarSurf XR 1 は、革新的な粗さ評価ソフトウェアの代表です。
  • R-、P-、W-プロファイルに対して 80 以上の表面パラメータが利用可能、ISO / JIS、ASME または MOTIF (ISO 12085) に準拠
  • 現行基準に準拠したバンドパスフィルタ Ls; Ls は必要に応じてオフに切り替えるか、値を変更することができます
  • 総合的な測定記録
  • Quick&Easy 測定プログラムを簡単に素早く作成するティーチイン法
  • 基準(特許取得済)に準拠してカットオフおよびトラバース長を選択する自動機能
  • Ra または Rz パラメータを指定することにより、様々なキャリブレーション方法(静的および動的)に対応します
  • 調整可能なメンテナンスとキャリブレーション間隔
  • カスタムアプリケーション用の複数の測定ステーション構造
  • システムの柔軟性を提供するオプション範囲
  • 誤用および不正使用を防止する様々なユーザーレベルの保護
  • 技術データ
  • 用途
  • アクセサリ
  • オプション
  • 発送

測定原則
スタイラス法
入力
BFW スキッドレスシステムと MarSurf SD 26 駆動ユニット、またはPHT スキッドレスシステムと MarSurf RD 18 駆動ユニット
測定範囲
+/- 250 µm (最大+/- 750 µm、プローブアーム長3倍)、BFW システムに適用
350 µm を PHT プローブシステムに適用
ISO/JIS に準拠したフィルタ
ISO 11562 適合ガウシアンフィルタ
ISO 13565 に準拠したフィルタ
トラバース長(テキスト)
SD 26:自動; 0.56 mm*; 1.75 mm; 5.6 mm; 17.5 mm, 56 mm,
停止するまで測定、変数
* 駆動ユニット別のトラバース長
RD 18:自動; 1.75 mm; 5.6 mm; 17.5 mm
ISO/JIS に準拠したサンプリング長の数 n
1 ~ 50 (デフォルト: 5)
測定力 (N)
0,7 mN
表面パラメータ
R-、P- および W-プロファイルに対する 80 以上の表面パラメータ
現行の ISO/JIS または MOTIF 基準 (ISO 12085) に準拠

マシン構築
エンジニアリングおよび精密エンジニアリング産業用のベアリング、シャフト、ラック、弁、各種部品

自動車産業
ステアリング、ブレーキシステム、ギヤボックス、クランクシャフト、カムシャフト、シリンダヘッド、シリンダブロック、ターボチャージャ

医療
腰および膝の人口器官の表面粗さ測定

航空宇宙
タービン部品

光装置
様々な光学部品

一般ソフトウェアオプション:
  • MarWin 用主な波形オプション (WDc)
  • ISO 13565-3 表面パラメータオプション
  • QS-STAT / QS-STAT Plus オプション
  • プロファイル処理オプション
  • ユーザー定義のパラメータオプション(パラメータまたはアプリケーションエンジニアリングチームによる作業が必要)
  • MarSurf XR 1 / XR 20 オプション用輪郭1(MarSurf SD 26 駆動ユニット併用)
  • 1つの MLK ですべてのオプションに対応

ソフトウェアオプション:
  • 拡張評価オプション
  • 複数測定オプション
  • 拡張測定記録オプション
  • スクリプトプログラムの統合オプション
  • デジタル I/O セットオプション

  • スキッドあり/なしトレース
  • MarSurf RD 18 または MarSurf SD 26 駆動ユニット

  • MarSurf XR 1、XR 1 ソフトウェア、Mahr ライセンスキーと標準ライセンス
  • 駆動ユニットアダプタ
  • オールインワンPCオプション
  • MarSurf SD 26 / RD 18 駆動ユニットセット、プローブシステムを含む
  • MFW 250 B プローブシステムセット
  • MarSurf ST-G 測定スタンド
  • CT 120 XY テーブル