計測技術
計測技術
品質単価を最少化させるためのマスター測定プロセス
JA

測定技術の現在の傾向としては、「処理能力」の評価に重きを置いています。

この点において、Boschのbooklet 10が貴重な例として挙げられます。 そこに記載されている%GRRには、繰り返し測定した値の変化としての許容差は1/40回とあります。例えば、1 µmの許容値は、たった14 nanometersです。これにより、測定技術開発の歴史の中でオペレータの影響を最小レベルまで減少することが出来るようになり、より多軸の機械を開発することにつながりました。

 

  • 多軸測定機と自動化を通じて測定の安全性が飛躍的に向上しました。
  • オペーレータの影響を最小限に抑えることにより、測定時の正確性が高まりました。
  • (試験範囲 / 標準作業手順書) Scope of Test / Standard Operating Procedureを通じて、より良い調整プロセスを得るための測定時の正確性が高まりました。
  • 主な測定の障害は、実質的に閉ループに影響を及ぼします。 測定の品質によって、閉ループが成功するかどうかが決まります。 (測定技術の処理能力)

 

様々な生産工程の測定値にリンク

  • プロセス状態の評価
  • コントロールステーションでの測定技術の視覚化
  • テストの適応範囲のルールおよび/または
  • 管理コスト/間接費の削減を目指して、次の製造工程の制御公差の適応
     

測定ステーションの結果を踏まえて製造機をコントロールできる閉ループは、最先端の技術です。 測定制御が安定して接続され、いかなる異常値の影響も受けずに操作できるということは最も重要なことです。 さもなくば、制御は不可能になります。将来、閉ループは測定ステーション対、加工機の組み合わせにとり重要となります。

続く: