Technika pomiarowa
Technika pomiarowa
MarForm MFU 200 Aspheric 3D Bardzo dokładne stanowisko pomiarowe 3D
PL
Firma Mahr opracowała urządzenie MarForm MFU 200 Aspheric 3D z myślą o szybkiej kontroli komponentów optycznych w 2D/3D przeprowadzanej na produkcji. Maszyny pomiarowe MarForm od dziesięcioleci słyną ze swojej dokładności i stabilności.
Dzięki MarForm MFU 200 Aspheric 3D cechy te znajdą zastosowanie także w przemyśle optycznym.

Dokładność
MarForm MFU 200 Aspheric 3D to bardzo dokładne urządzenie pomiarowe, dzięki małej niepewności pomiaru idealnie nadające się do optymalizacji procesów.

Zasada pomiaru
MarForm MFU 200 Aspheric 3D służy do pomiarów topografii komponentów optycznych. Oczywiście możliwy jest również szybki pomiar 2D wykonywany za pomocą przejścia ostrza pomiarowego przez zenit soczewki. Do pomiaru 3D należy najpierw zmierzyć oddzielnie dwa profile liniowe zawierające zenit soczewki i przesunięte względem siebie o 90°. Następnie rejestrowanych jest kilka współśrodkowych profili biegunowych przez obrót osi C. Te punkty pomiarowe wykorzystywane są do tworzenia topografii. Swobodne pozycjonowanie ramienia pomiarowego umożliwia pomiar powierzchni nieciągłych.
Kabina pomiarowa z amortyzacją drgań chroni mierzone elementy przed wibracjami i zanieczyszczeniami.

Przebieg pomiaru
Przed pomiarem należy wybrać typ kształtu nominalnego i ustawić parametry soczewki referencyjnej. Następny krok to zapisywanie danych pomiarowych i ich porównywanie z danymi nominalnymi soczewki.
Jako parametry przedstawiane są: wartość RMS, wartość PV i błąd nachylenia (Slope Error).
Oprogramowanie umożliwia dopasowanie do asfery poszczególnych parametrów, takich jak promień krzywizny R0, stała stożkowa k i asferyczne współczynniki Ai do wyników pomiarowych podczas dopasowywania asfery nominalnej do asfery otrzymanej z pomiarów.
Różnica topografii między obliczonymi wartościami pomiarowymi a soczewką zadaną prezentowana jest w formie wykresu z kodowaniem barwnym. Odcinki 2D i różnica topografii mogą być eksportowane w znanych formatach do korekcji w obrabiarce.
Oprócz pomiaru sfer i asfer zgodnie z powyższym opisem możliwy jest pomiar i analiza także innych obiektów obrotowo-symetrycznych za pomocą kształtu nominalnego przestawionego jako opis wycinka stożka lub wysokości strzałek lub też chmury punktów 3D.
  • Dane techniczne

Odchyłka okrągłości (µm+µm/mm wysokości pomiarowej) *
0,01 + 0,0002
Odchyłka okrągłości (µm+µm/mm wysokości pomiarowej) **
0,02 + 0,0004
Bicie osiowe (µm+µm/mm promienia pomiarowego) *
0,02 + 0,0002
Bicie osiowe (µm+µm/mm promienia pomiarowego) **
0,04 + 0,0004
Stół centrujący i uchylny
automatycznie
Średnica stołu (mm)
180
Obciążalność stołu, centrycznie (N)
200
Prędkość obrotowa (1/min) 50 Hz/60 Hz
0,1 do 200
Odchyłka prostoliniowości/droga pomiarowa 100 mm (µm)**, oś Z
0,1
Odchyłka prostoliniowości/cała droga pomiarowa (µm)**, oś Z
0,3
Odchyłka równoległości osi Z / C w kierunku pomiaru, droga pomiarowa (µm)
0,6
Prędkość pomiaru (mm/s), oś Z
0,1 do 50
Prędkość pozycjonowania (mm/s), oś Z
0,1 do 50
Odchyłka prostoliniowości/cała droga pomiarowa (µm)**, oś X
0,3
Prostokątność osi X/C, droga pomiarowa (µm)
0,3
Prędkość pozycjonowania (mm/s), oś X
0,1 do 50
Prędkość pomiaru (mm/s), oś X
0,1 do 50