Technika pomiarowa
Technika pomiarowa
MarSurf CM expert Powierzchniowe pomiary 3D
PL
Wysokiej jakości, zautomatyzowany system pomiarowy
MarSurf CM expert to wyjątkowo wydajny mikroskop konfokalny, za pomocą którego można mierzyć i analizować powierzchnie w trzech wymiarach – bezstykowo, szybko i niezależnie od materiału

Dzięki trwałej konstrukcji i niewrażliwości na wpływy otoczenia MarSurf CM expert doskonale nadaje się nie tylko do zastosowania w pomieszczeniach testowych i kontrolnych, ale także do kontroli jakości w otoczeniu produkcji. 

Dzięki dodatkowemu ręcznemu pozycjonowaniu w osi Z, dużym zakresom przemieszczenia x i y oraz możliwości automatyzacji zapewnia on wyjątkowy komfort obsługi. Opcja przeprowadzania pomiarów niezależnie od użytkownika i w pełni automatycznie wyróżnia ten system pomiaru powierzchni i sprawia, że doskonale nadaje się on do nieskomplikowanych, wydajnych zastosowań w kontroli jakości. 

Najważniejsze zalety:
  • Niezależne od użytkownika pomiary seryjne za pomocą oprogramowania do automatyzacji
  • Duża prędkość pomiaru – również przy maksymalnej rozdzielczości
  • Przyjazna dla użytkownika koncepcja obsługi 
  • Bezpieczeństwo dzięki detekcji kolizji we wszystkich kierunkach, chroniącej detal i system pomiarowy
  • Funkcja High-Dynamic-Range (HDR) 16 bit
  • Stała, wysoka rozdzielczość również na dużych powierzchniach pomiarowych dzięki funkcji HD-Stitching

Renomowane optyczne systemy pomiarowe są z powodzeniem stosowane m.in. do następujących zadań:
  • Pomiar chropowatości wg DIN EN ISO 4287 / 25178 
  • Pomiar topografii (m.in. objętość, zużycie, izotropia)
  • Pomiar mikrogeometrii i grubości warstw

Użytkownicy cenią sobie niezawodność tych systemów pomiarowych, które dostarczają sprawdzalnych, ilościowych parametrów 3D dla wielu branż.
  • Dane techniczne
  • Zastosowania
  • Dostawa

Rozdzielczość
bis zu 2 (nm) vertikal
Prędkość pomiaru
bis zu 100fps
Zasada pomiaru
Konfokalna
Wysokowydajna dioda LED (505 nm/biała)
Pozostałe
Kollisionsdetektion in xyz-Richtung
Napięcie zasilania
100 - 240 V
Parametry
ISO 4287, ISO 13565, ISO 25178, …
Objętość pozycjonowania x
100 mm
Objętość pozycjonowania y
100 mm
Objętość pozycjonowania z
70 mm

Budowa maszyn
Pomiar ilościowy i jakościowy chropowatości, geometrii i stopnia zużycia

Elektronika i półprzewodniki
Inspekcja komponentów w zakresach do submikrometrycznego, dla zapewnienia pozbawionych wad produktów

Technika medyczna
Kontrola jakości powierzchni dla technologii medycznej, w obszarach produkcyjnych i laboratoriach

Badania materiałowe
Optymalizacja właściwości funkcyjnych nowych powierzchni i produktów

Technika mikrosystemów
Pomiar złożonej geometrii powierzchni nawet najmniejszych komponentów z dokładnością do nanometra

MarSurf CM expert

  • Konfokalna głowica pomiarowa
    • Kamera HDR (czarno-biała lub kolorowa)
    • 4-krotny obiektyw rewolwerowy z oznaczeniem
  • Statyw L z elektroniką sterującą
  • Zmotoryzowany stół XY (100x100 mm) ze szklanymi skalami do pozycjonowania i łączenia pól obrazowych („stitching”)
  • Zmotoryzowana oś Z (70 mm) ze szklaną skalą
  • Komputer systemu pomiarowego z monitorem TFT 24”
  • Obiektywy:
    • do wyboru, od 5x do 100x
  • MarSurf MSW do intuicyjnej rejestracji danych
  • MarSurf ASW do automatyzacji (opcjonalnie)
  • MarSurf MfM do profesjonalnej analizy, prezentacji graficznej i tworzenia protokołów
    (do wyboru dostępne wersje standardowa, rozszerzona i premium)