Technika pomiarowa
Technika pomiarowa
MarSurf CM select Powierzchniowe pomiary 3D
PL
Pomiary powierzchni dopasowane do indywidualnych potrzeb
MarSurf CM select to wysokowydajny, konfigurowalny mikroskop konfokalny, za pomocą którego można mierzyć i analizować powierzchnie w trzech wymiarach – bezstykowo, szybko i niezależnie od materiału.

Możliwe jest indywidualne łączenie systemów osi i izolacji oraz modułów oprogramowania. Dzięki temu można dostosować systemy pomiarowe do różnych zadań pomiarowych.

Jako system wieloczujnikowy MarSurf CM select oferuje ponadto możliwość łączenia różnych technologii czujnikowych w jednym urządzeniu. Zależnie od zadania pomiarowego można dodatkowo dobrać optymalny czujnik punktowy.

MarSurf CM select spełnia indywidualne wymagania klientów w zakresie automatyzacji, komfortu pomiarów i dokładności – aż po w pełni automatyczne rozwiązania pomiarowe.

Najważniejsze zalety:
  • Stworzone z myślą o pracy w trybie ciągłym
  • Oprogramowanie do automatyzacji z interfejsami przemysłowymi do przekazywania danych do systemów kontroli jakości
  • Duża prędkość pomiaru – również przy maksymalnej rozdzielczości
  • Indywidualna konfiguracja na odpowiednią wielkość próbki
  • Multisensoryka
  • Przyjazna dla użytkownika koncepcja obsługi
  • Bezpieczeństwo dzięki detekcji kolizji we wszystkich kierunkach, chroniącej detal i system pomiarowy
  • Funkcja High-Dynamic-Range (HDR) 16 bit
  • Stała, wysoka rozdzielczość również na dużych powierzchniach pomiarowych dzięki funkcji HD-Stitching

Renomowane optyczne systemy pomiarowe są z powodzeniem stosowane m.in. do następujących zadań:
  • Pomiar chropowatości wg DIN EN ISO 4287 / 25178
  • Pomiar topografii (m.in. objętość, zużycie, izotropia)
  • Pomiar mikrogeometrii i grubości warstw

Użytkownicy cenią sobie tę serię jako niezawodne systemy pomiarowe, dostarczające sprawdzalnych, ilościowych parametrów 3D dlawielu branż.
  • Dane techniczne
  • Zastosowania
  • Dostawa

Rozdzielczość
bis zu 2 (nm) vertikal
Prędkość pomiaru
bis zu 100fps
Zasada pomiaru
Konfokalna
Wysokowydajna dioda LED (505 nm/biała)
Pozostałe
Kollisionsdetektion in xyz-Richtung
Napięcie zasilania
100 - 240 V
Parametry
ISO 4287, ISO 13565, ISO 25178, …
Objętość pozycjonowania x
300 mm
Objętość pozycjonowania y
300 mm
Objętość pozycjonowania z
100 mm

Budowa maszyn
Pomiar ilościowy i jakościowy chropowatości, geometrii i stopnia zużycia

Elektronika i półprzewodniki
Inspekcja komponentów w zakresach do submikrometrycznego, dla zapewnienia pozbawionych wad produktów

Technika medyczna
Kontrola jakości powierzchni dla technologii medycznej, w obszarach produkcyjnych i laboratoriach

Badania materiałowe
Optymalizacja właściwości funkcyjnych nowych powierzchni i produktów

Technika mikrosystemów
Pomiar złożonej geometrii powierzchni nawet najmniejszych komponentów z dokładnością do nanometra

MarSurf CM select
  • Konfokalna głowica pomiarowa
    • Kamera HDR (czarno-biała lub kolorowa)
    • 4-krotny obiektyw rewolwerowy z oznaczeniem (opcjonalny)
  • Konstrukcja portalowa z elektroniką sterującą
  • Zmotoryzowane osie XYZ dostępne w różnych wersjach do wyboru
  • Komputer przemysłowy z dwoma monitorami TFT 24”
  • Obiektywy:
    • do wyboru, od 5x do 100x
  • System amortyzacji drgań do wyboru
  • Multisensoryka (opcjonalne)
  • Kamera podglądowa (opcjonalnie)
  • MarSurf MSW do intuicyjnej rejestracji danych
  • MarSurf ASW do automatyzacji (opcjonalnie)
  • MarSurf MfM do profesjonalnej analizy, prezentacji graficznej i tworzenia protokołów
    (do wyboru dostępne wersje standardowa, rozszerzona i premium)