Technika pomiarowa
Technika pomiarowa
MarSurf XR 1 Stanowisko do pomiaru chropowatości
PL
MarSurf XR 1. Właściwe urządzenie do ekonomicznych, w pełni komfortowych pomiarów powierzchni.
Wspomagane komputerowo urządzenie zapewnia zarówno w pomieszczeniu pomiarowym, jak i w warunkach produkcyjnych wszystkie powszechnie wykorzystywane parametry i profile zgodnie z międzynarodowymi normami. MarSurf XR 1 to przyszłościowe oprogramowanie do analizy chropowatości.
  • Ponad 80 parametrów do profili R, P, W wg aktualnych norm ISO/JIS lub MOTIF (ISO 12085)
  • Filtr środkowoprzepustowy Ls wg aktualnej normy, Ls można także wyłączyć lub dowolnie modyfikować
  • Obszerne protokołowanie
  • Możliwość szybkiego tworzenia programów pomiarowych w trybie uczenia za pomocą kreatorów Quick & Easy
  • Funkcja automatycznego doboru zgodnego z normą cutoff i odcinka odwzorowania
  • Różne metody kalibracji (statyczna i dynamiczna) z zadawaniem parametru Ra lub Rz
  • Możliwość ustawienia okresów międzykonserwacyjnych i międzykalibracyjnych.
  • Wiele możliwości konfiguracji stanowiska pomiarowego do indywidualnego zastosowania
  • Elastyczność systemu dzięki różnorodnym opcjom
  • Różne poziomy użytkownika chronią przed nieprawidłową obsługą urządzenia i gwarantują, że nie mają do niego dostępu osoby nieuprawnione
  • Dane techniczne
  • Zastosowania
  • Akcesoria
  • Opcje
  • Dostawa

Zasada pomiaru
Metoda profilometryczna
Czujnik
Głowica bezślizgaczowa BFW z mechanizmem posuwowym MarSurf GD 26 i/lub MarSurf SD 26 i/lub głowica ślizgaczowa PHT z mechanizmem posuwowym MarSurf RD 18
Zakres pomiarowy mm
+/- 250 µm (do +/- 750 µm przy 3-krotnej długości ramienia pomiarowego) obowiązuje dla głowicy BFW
dla głowicy PHT obowiązuje 350 µm
Filtr wg ISO/JIS
Filtr wg ISO 16610-21 (wcześniej ISO 11562), odporny filtr Gaussa wg ISO 16610-31, filtr wg ISO 13565
Odcinki odwzorowania
MarSurf GD 26/SD 26: Automatycznie; 0,56 mm*; 1,75 mm; 5,6 mm; 17,5 mm, 56 mm,
pomiar do zatrzymania, zmienny
*Odcinek odwzorowania zależny od  mechanizmu posuwowego
RD 18: Automatycznie; 1,75 mm; 5,6 mm; 17,5 mm
Liczba n pojedynczych odcinków pomiarowych wg ISO/JIS
1 do 50 (standard: 5)
Nacisk pomiarowy (N)
0,7 mN
Parametry
Ponad 80 parametrów dla profili R, P i W
według aktualnych norm ISO/JIS lub MOTIF (ISO 12085)

Budowa maszyn
Łożyska, wałki, zębatki, zawory, różne elementy konstrukcyjne przemysłu maszynowego i precyzyjnego

Przemysł samochodowy
Układy kierownicze, układy hamulcowe, przekładnie, wały korbowe, wałki rozrządu, głowice cylindra, bloki cylindrowe, turbosprężarki

Medycyna
Pomiar chropowatości endoprotez biodrowych i kolanowych

Lotnictwo i kosmonautyka
Części do turbosprężarek

Optyka
Różne komponenty optyczne

Ogólne opcje oprogramowania:
  • Opcja – dominująca falistość (WDc) dla MarWin
  • Opcja – parametry ISO 13565-3
  • Opcja – QS-STAT/QS-STAT Plus
  • Opcja – przetwarzanie profilu
  • Opcja – parametry zdefiniowane przez użytkownika (dodatkowo potrzebny jest parametr lub praca inżyniera ds. aplikacji)
  • Opcja – Kontur 1 do MarSurf XR 1/XR 20 (w połączeniu z mechanizmem posuwowym MarSurf SD 26)
  • Wszystkie opcje na jednym MLK

Opcje oprogramowania:
  • Opcja – rozszerzona analiza
  • Opcja – pomiar wielokrotny
  • Opcja – rozszerzony protokół pomiarowy
  • Opcja – obsługa skryptów
  • Opcja – Digital I/O Set

  • Pomiar ślizgaczowy lub bezślizgaczowy
  • Mechanizmy posuwowe MarSurf  GD 26 i / lub MarSurf SD 26 i / lub MarSurf RD 18

  • MarSurf XR 1, oprogramowanie XR 1, klucz licencyjny Mahr ze standardową licencją
  • Adapter mechanizmu posuwowego
  • Komputer All-in One (opcjonalnie)
  • Mechanizm posuwowy MarSurf GD 26 Set i/lub MarSurf SD 26 Set i/lub RD 18 Set z głowicą pomiarową
  • Głowica pomiarowa MFW 250 B
  • Statyw pomiarowy MarSurf ST-G
  • Stolik XY CT 120