Technika pomiarowa
Technika pomiarowa
MarForm MFU 200 Aspheric 3D Bardzo dokładne stanowisko pomiarowe 3D
PL
Firma Mahr opracowała urządzenie MarForm MFU 200 Aspheric 3D z myślą o szybkiej kontroli komponentów optycznych w 2D/3D przeprowadzanej na produkcji. Maszyny pomiarowe MarForm znane są od dziesięcioleci ze swojej dokładności i stabilności.
MarForm MFU 200 Aspheric 3D udostępnia teraz te doświadczenia przemysłowi optycznemu.

Dokładność
MarForm MFU 200 Aspheric 3D to bardzo dokładne urządzenie pomiarowe, dzięki bardzo niewielkiej niepewności pomiaru idealnie nadające się do optymalizacji procesów.

Zasada pomiaru
MarForm MFU 200 Aspheric 3D mierzy topografię komponentów optycznych. Oczywiście możliwy jest również szybki pomiar 2D wykonywany za pomocą przejścia ostrza pomiarowego przez zenit soczewki. Do pomiaru 3D należy najpierw zmierzyć oddzielnie dwa profile liniowe zawierające zenit soczewki i przesunięte względem siebie o 90°. Następnie rejestrowanych jest kilka współśrodkowych profili biegunowych przez obrót osi C. Te punkty pomiarowe wykorzystywane są do tworzenia topografii. Swobodne pozycjonowanie ramienia pomiarowego umożliwia pomiar powierzchni nieciągłych.
Dzięki zastosowaniu stanowiska pomiarowego w kabinie z amortyzacją drgań eliminuje się zewnętrzne zakłócenia takie jak wibracje i zanieczyszczenie mierzonych obiektów. Jako program obsługowy i analizujący stosowane jest oprogramowanie MarWin.

Przebieg pomiaru
Przed pomiarem należy wybrać typ kształtu docelowego i ustawić oczekiwane parametry soczewki zadanej. W następnej kolejności dane pomiarowe są rejestrowane i porównywane z danymi zadanymi soczewki.
Jako parametry wyświetlane są wartość RMS, wartość PV i błąd nachylenia (Slope Error).
Oprogramowanie umożliwia dopasowanie do asfery poszczególnych parametrów, takich jak promień zakrzywienia R0, stała stożkowa k i asferyczny współczynnik Ai do wyników pomiarowych podczas dopasowywania asfery zadanej do asfery Fit.
Topografia różnicy między obliczonymi wartościami pomiarowymi a soczewką zadaną prezentowana jest w formie obrazu wysokości z kodowaniem barwnym. Odcinki 2D i topografia różnicy mogą być eksportowane w znanych formatach do korekcji na maszynie obróbczej.
Oprócz pomiaru sfer i asfer zgodnie z powyższym opisem możliwy jest pomiar i analiza także innych obiektów obrotowo-symetrycznych za pomocą kształtu docelowego przestawionego jako opis wycinka stożka lub wysokości strzałek lub też chmury punktów 3D.
  • Dane techniczne

Odchyłka okrągłości (µm+µm/mm wysokości pomiarowej) *
0,01 + 0,0002
Odchyłka okrągłości (µm+µm/mm wysokości pomiarowej) **
0,02 + 0,0004
Bicie osiowe (µm+µm/mm promienia pomiarowego) *
0,02 + 0,0002
Bicie osiowe (µm+µm/mm promienia pomiarowego) **
0,04 + 0,0004
Stół centrujący i uchylny
automatycznie
Średnica stołu (mm)
180
Obciążalność stołu, centrycznie (N)
200
Prędkość obrotowa (1/min) 50 Hz/60 Hz
0,1 do 200
Odchyłka prostoliniowości/droga pomiarowa 100 mm (µm)**, oś Z
0,1
Odchyłka prostoliniowości/cała droga pomiarowa (µm)**, oś Z
0,3
Odchyłka równoległości osi Z / C w kierunku pomiaru, droga pomiarowa (µm)
0,6
Prędkość pomiaru (mm/s), oś Z
0,1 do 50
Prędkość pozycjonowania (mm/s), oś Z
0,1 do 50
Odchyłka prostoliniowości/cała droga pomiarowa (µm)**, oś X
0,3
Prostokątność osi X/C, droga pomiarowa (µm)
0,3
Prędkość pozycjonowania (mm/s), oś X
0,1 do 50
Prędkość pomiaru (mm/s), oś X
0,1 do 50