Messtechnik
Messtechnik
MarSurf CWM 100
PT
O aparelho de medição óptica de alta precisão e controlado por computador MarSurf CWM 100 com resolução subnanométrica. Um sistema de medição 3D combinado, consistindo de um microscópio confocal e um interferômetro de luz branca
  • Máxima precisão com resolução subnanométrica
  • Aplicação universal para superfícies usinadas, ópticas e refletoras assim como superfícies de placas eletrônicas e produtos semicondutores e tecidos biológicos
  • Análise de superfícies 2D a avaliações de medições
  • Análise topográfica de superfícies 3D e avaliações de medições
  • Medições rápidas - tempos curtos de medição
  • Tamanhos microscópicos de campos de imagem, facilmente ampliável através do processo totalmente automático de "stitching"
  • Posicionamento automático da mesa e do objeto: 100 mm x 100 mm, percursos maiores sob consulta
  • Ampla escolha de objetivas permite a adaptação ideal ao objeto de medição
  • Estrutura sólida com placa base de granito e coluna de granito, para amortecimento máximo de vibrações
  • Software profissional de avaliação, com base em MountainsMap©
  • Dados técnicos
  • Aplicações
  • Acessórios
  • Escopo de fornecimento

Princípio de medição
Interferométrico, interferométrico de luz branca e confocal
Fonte de luz (KFM e WLI): LED de alta potência, 505 nm
Campo de medição mm
Unidade de sensor 100 mm deslocável em Z, controlável por CNC
Platina 100 mm deslocável em X e Y, controlável por CNC

Interferômetro, Interferômetro de luz branca
Campo de medição (WLI): até 4 mm (dependendo da objetiva)

Microscópio confocal:
Campo de medição (KFM): até acima de 800 µm (dependendo da resolução em Z e da objetiva)
Conexões
230 V, 50 Hz

Construção mecânica
Superfícies metálicas de todo tipo (retificadas, laminadas, etc.), bem como superfícies estruturadas com laser, superfícies cerâmicas e plásticas, superfícies de moldes de fundição

Medicina
Superfícies metálicas, cerâmicas e plásticas em implantes, próteses e instrumentos

Sistema eletrônico

Análise de superfície de revestimentos, medição e análise de elementos construtivos eletrônicos e semicondutores

Óptica

Análise de forma e rugosidade em diversos componentes ópticos (todos os materiais)

Mesa basculante CT 120 de dois eixos

Mesa de ajuste angular +/- 30°

Conjunto de padrões

Microscópio confocal:

Objetiva KFM 10x0,5;  20x0,75;  50x0,6 com 11 mm de distância entre a platina e a peça de trabalho;  50x0,8;  100x0,9

Interferômetro de luz branca:

Objetiva WLI 2,5x0,075;  5x0,13;  10x0,3;  20x0,4;  50x0,55;  100x0,7

  • Sistema de sensores, consistindo de:
    • Microscópio confocal KFM com revólver com 6 porta-objetivas
    • Câmara 768 pixel x 582 pixel, até 48 imagens/s
    • 100 mm eixo Z comandado por CNC com escala de vidro Heidenhain integrada
    • Módulo de software WLI, software "Inspetor"
  • Estrutura básica de granito e coluna com sistema de sensores e platina controlada por CNC
  • Comando motorizado multi-eixos para eixo Z e mesa XY para posicionamento da peça de teste e compilação de campos de imagens
  • Objetiva 50x0,8 EPI (Microscópio confocal)
  • Objetiva 20x0,4 DI (Interferômetro de luz branca)