Messtechnik
Messtechnik
MarSurf WM 100
PT
O aparelho de medição óptica de alta precisão MarSurf WM 100 com resolução subnanométrica e precisão de medição. Um sistema de medição interferométrico de luz branca 3D
  • Máxima precisão com resolução subnanométrica e precisão de medição
  • Aplicação universal para superfícies ópticas e refletoras, superfícies técnicas finas assim como superfícies de placas eletrônicas e produtos semicondutores e tecidos biológicos
  • Análise de superfícies 2D a avaliações de medições
  • Análise topográfica de superfícies 3D e avaliações de medições
  • Medições rápidas - tempos curtos de medição
  • Posicionamento manual de mesa e objeto em até 4 eixos
  • Ampla escolha de objetivas permite a adaptação ideal ao objeto de medição
  • Estrutura robusta com placa base de granito
  • Software profissional de avaliação, com base em MountainsMap©
  • Dados técnicos
  • Aplicações
  • Acessórios
  • Escopo de fornecimento

Princípio de medição
Interferométrico, interferométrico de luz branca
Fonte de luz (WLI): LED de alta potência, 505 nm
Campo de medição mm
Unidade de sensor acima de 200 mm, deslocável manualmente em Z
Platina deslocável manualmente em X e Y

Interferômetro, Interferômetro de luz branca
Campo de medição (WLI): até 100 µm (vertical)
Conexões
230 V, 50 Hz

Construção mecânica
Superfícies metálicas finas de todo tipo (retificadas, laminadas, etc.), bem como superfícies estruturadas com laser, superfícies cerâmicas e plásticas finas, superfícies de moldes de fundição

Medicina
Superfícies metálicas, cerâmicas e plásticas em implantes, próteses e instrumentos

Sistema eletrônico

Análise de superfície de revestimentos, medição e análise de elementos construtivos eletrônicos e semicondutores

Óptica

Análise de rugosidade em diversos componentes ópticos (todos os materiais)

Mesa basculante CT 120 de dois eixos
Mesa de ajuste angular +/- 30°

Conjunto de padrões


Interferômetro de luz branca:

Objetivas WLI 2,5x0,075;  5x0,13;  10x0,3;  20x0,4;  50x0,55;  100x0,7

Opcional:
  • Com amortecimento de vibrações para atenuação máxima de vibrações, para medição na escala nanométrica e subnanométrica.

  • Sistema de sensores, consistindo de:
    • Cabeçote do sensor WLI
    • Câmara 768x582 pixel, até 48 imagens/s
    • 100 µm eixo Z com acionamento piezo
    • Módulo de software WLI, software "Inspetor"
  • Base de granito e coluna para posicionamento manual em Z do sistema de sensores
  • Platina XY manual para posicionamento de amostras
  • Objetiva 20x0,4 DI (Interferômetro de luz branca)