측정실, 생산 라인, 생산 제품 및 개발에서의 품질 관리를 위한 고퀄리티 측정.
Gear Metering Pumps & Meter Mix Dispense Machines with highest accuracy for processing liquids and pastes.
High-precision rotary stroke bearings for backlash-free linear and rotational movements for use in machine and device construction.
광범위한 응용 분야를 위한 혁:
- • 신적인 계측
- • 길이와 직경
- •형태와 위치
- • 기어와 샤프트
액체 및 페이스트의 정밀 혼합과 계량
- • 기어 계량 펌프
- • 화이버 생산을 위한 펌프
- • 믹스 디스펜서 기계 및 혼합 헤드
백래시 없는 선형 및 회전 이동을 위한 로터리 스트로크 베어링:
- • 기계식 엔지니어링
- • 정밀 엔지니어링
- • Optik
- • 전자 부품
- • 및 기타 여러 산업
국제적으로 사업을 운영하는 회사로서 Mahr는 독일 뿐 아닌 전세계에서 특허를 보유하고 있습니다.
MarSurf WI 시리즈: 나노미터 이하 범위에서의 정밀한 측정
Ganz gleich, ob Medizintechnik, Optik oder Halbleiterindustrie: Viele Branchen setzen auf extrem glatte Oberflächen, damit Linsen, Wafer oder Implantate die richtigen Eigenschaften erhalten. Dafür werden sie aufwändig gefertigt und in den Laboren und Qualitätssicherungen der Hersteller minutiösen Prüfungen unterzogen. Weil es bei der Rauigkeit dieser Oberflächen auf den Sub-Nanometer ankommt, ist die Weißlichtinterferometrie die Messmethode der Wahl.
Die drei neuen Mahr-Weißlichtinterferometer sind mit der einzigartigen ICA-Technologie („Intelligent Correlation Algorithm“) ausgestattet. ICA ermöglicht eine sehr gute statistische Bestimmung der Höhenwerte, beste Datenqualität und ein minimales Rauschmaß von nur 80 Pikometern. Messdaten liefert sie in wenigen Sekunden. Das bedeutet für Anwender: Hochpräzise Topografiedaten und Oberflächenstrukturen bei einer sehr hohen vertikalen Auflösung.
Die neue Weißlichtinterferometrie-Serie von Mahr umfasst drei Geräte:
- Das manuelle MarSurf WI 50 M als Allround-Einstiegslösung für anspruchsvolle Messaufgaben
- Das MarSurf WI 50, ein hochpräzises Messtool für Forschung und Qualitätsmanagement
- Das automatisierbare MarSurf WI 100 als Profi-Gerät mit erweiterter Z-Achse für besonders große Werkstücke
Über die Genauigkeit hinaus punkten die drei Geräte mit einem sehr großen Positioniervolumen für große Werkstücke und der intuitiven Benutzersoftware, die Mahr-Kunden bereits von den anderen optischen Systemen kennen und schätzen. Damit können Labore und Qualitätssicherungen feinste Rauheiten, Stufenhöhen oder Ebenen im Nanometerbereich eruieren – und das in wenigen Sekunden.
Lernen Sie ICA kennen!
Die innovative ICA-Technologie unserer neuen Weißlichtinterferometern kombiniert die Vorteile der PSI- und VSI-Methoden. Das Ergebnis: Hochpräzise Topografiedaten bei einer sehr hohen vertikalen Auflösung.
